一种基于BP神经网络的集成电路PHM模型
【出 处】:
【作 者】:
杜涛
阮爱武
汪鹏
李永亮
李平
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
四川成都610054
【摘 要】提出了一种基于数据驱动的集成电路故障预测与健康管理(PHM)模型,该模型基于反向传播(BP)神经网络算法,避免了对集成电路老化失效物理机理的依赖,能有效拟合集成电路失效的非线性函数关系。以已编程应用设计的FPGA为目标器件,通过实验提取参数样本进行模型训练,并将模型应用于实测验证。结果表明,该模型输出结果与实测结果吻合良好,能有效满足集成电路故障预测与健康管理的实际应用。
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