基于纹理特征的磁片表面刀纹缺陷检测
【出 处】:《
计算机工程与科学
》
CSCD
2012年第34卷第6期 88-92页,共5页
【作 者】:
贺延涛
[1] ;
徐琪
[2] ;
唐亮
[1] ;
游晓明
[3]
【摘 要】
表面缺陷检测在工业生产中对产品质量可以起到有效的监督控制作用,而目前对磁性材料表面刀纹缺陷检测的方法各自存在自身的局限性,如成本过高、检测速度太慢而不能满足工业生产中实时检测的需求等。为了能够达到实时稳定的检测磁片表面刀纹缺陷的目的,本文借助于计算机工业视觉系统,基于纹理特征,通过图像预处理,采用增强缺陷部分并抑制背景部分的方法,使得各种缺陷具有了统一性,从而能设计适合的掩模来提取出缺陷部分,实现了对磁片表面刀纹缺陷的检测。实验结果表明,采用本文提出的方法可以实时完成对磁片表面刀纹缺陷的检测并且对于多种缺陷类型都适用。
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