硬盘自伺服刻写中径向误差特性研究
【出 处】:《
计算机工程与科学
》
CSCD
2010年第1期 117-119页,共4页
【作 者】:
赵小刚
[1,2] ;
王海卫
[1,2] ;
谢长生
[1,2] ;
李博
[1,2]
【摘 要】
伺服信息刻写的效率是制约硬盘工业生产的瓶颈。自伺服刻写方法能够极大提高硬盘伺服信息的生产效率,但其中的径向误差累积过程会严重影响自伺服刻写产生的伺服信息的质量。本文分析了自伺服刻写过程的机理及模型,从中找出了径向误差产生的过程和原因,并提出了减小径向误差累积的办法。实验表明,该方法能够很好地抑制径向误差的生长。
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